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產品型號：
所屬分類：線圈檢測儀
產品時間：2024-09-09
簡要描述：日本ecginc匝間短路檢測儀DWX系列10μH線圈波形清晰顯示隨著電子器械的高度化，被使用的線圈部品也變得越來越小型化高周波了。DWX是一種 適合各種電感線圈測試的儀器。此儀器搭載了高速開關的脈沖電源，采用高速·A/D取樣 電路，成功的解決了目前較難的低電感線圈測試問題。
日本ecginc匝間短路檢測儀DWX系列
低電感?線圈測試的決定版！
10μH線圈波形清晰顯示
隨著電子器械的高度化，被使用的線圈部品也變得越來越小型化高周波了。DWX是一種 適合各種電感線圈測試的儀器。此儀器搭載了高速開關的脈沖電源，采用高速·A/D取樣 電路，成功的解決了目前較難的低電感線圈測試問題。
隨著電子器械的高度化，被使用的線圈部品也變得越來越小型化高周波了。DWX是一種 可以對應各種電感線圈測試的儀器。此儀器搭載了高速開關的脈沖電源，采用高速·A/D取樣 電路，成功的解決了目前較難的低電感線圈測試問題。 。
脈沖波形入力回路中，因為采用了高性能阻抗分壓回路，所以能夠得到清晰準確的波形，而且提高了波形判斷能力以及放電檢出感應度。
（＊和本社DW?DWS系列（不含F(xiàn)類型）比較，大大提高了檢出感度。）
高速A/D取樣，可以準確的捕捉到低電感?線圈的極短脈沖應答的同時，而且8KPoint?取樣的高精細數(shù)據(jù)判定，還可以確切判定微少芯波形。
通過使用Laplacian演算的波形解析，抽取由高壓脈沖產生的放電成分，并在每個圖形的子窗口上直觀，易懂顯示放電測試。
波形判定中有AREA判定（面積比較）?DIF-AREA判定（波形差面積比較）?FLUTTER量檢出（放電量檢出）?LAPLACIAN量量檢出（放電量檢出）的檢查方法等多種組合，適用于各種線圈的測試試驗。
匝間短路檢測儀可以對線圈做到有效的，非破壞性測試。
其原理是將相同的脈沖電流傳遞給標準繞組（主線圈）和被測繞組（采樣線圈），比較瞬態(tài)現(xiàn)象波形，并判斷質量。瞬態(tài)波形，即在線圈中產生的減衰振動波形表示電感和Q，并且可以同時確定線圈的匝數(shù)差，層厚度，或確定材料的差異等等。施加更高的脈沖電壓還可以從電暈放電中檢測出絕緣缺陷。 換句話說，可以在非常短的時間內可以對線圈做各種檢測
日本ecginc匝間短路檢測儀DWX系列
| DWX-01A | DWX-05A | DWX-10 | ||
|---|---|---|---|---|
| 施加電壓?電壓可調檔位 ?施加能量 ※ 抵抗負荷為１ＫΩ | 50V～1000V （10V檔） 大5m焦耳 | 500V～5000V （100V檔） 大0.12焦耳 | 1000V～10000V （100V檔） 大0.5焦耳 | |
| 測試電感范圍 | 10μH以上 | 10μH以上 | 50μH以上 | |
| 采樣?速度 / 內存 | 8bit／10nano-sec.（100MHz） / 8192-Byte | |||
| 采樣?范圍 （WIDTH） | -4，-3，-2，-1，0，1，2，3，4，5 10個范圍（0 DW系列互換） | |||
| 測試輸入回路 | 電阻分壓（5MΩ） | |||
| 畫面顯示，波形顯示范圍 | 640×480（VGA），8.4寸彩色液晶，4色表示 512×256 | |||
| 判定方法 | 和標準波形比較 根據(jù)波形面積，波形差面積，放電量進行比較判定 線圈絕緣破壞電壓測試功能 | |||
| 標準波形 儲存容量 | 主機擴張 | 196種（14種／14頁） Compact Flash Memory700中（14種／50頁） | ||
| 外部接口 | 并行口I／O（Start，Reset，OK，NG，Busy，Master等） RS-232C（測試控制 測試數(shù)據(jù)） 打印機板（畫面硬拷貝等） EtherNet適配器（可選） | |||
| 附件 | 測試電纜線1.5M 1根，電源線1根（付3P轉換頭） Compact Flash Memory 1個，并行口I／O連接器1個 使用說明書?測試成績書 1份 | |||
| 使用條件 | 0℃～40℃ 電源電壓：100V～240V±10％（出廠時工廠設定） | |||
| 外形尺寸 （不含Carry Handle） ?重量 | 345(W)×185(H)×370(D) 約10Kg | 345(W)×325(H)×370(D) | ||
